ચિત્ર:AFMsetup.jpg

Page contents not supported in other languages.
વિકિપીડિયામાંથી

AFMsetup.jpg ‎(૭૨૧ × ૫૬૯ પીક્સલ, ફાઇલનું કદ: ૮૬ KB, MIME પ્રકાર: image/jpeg)

આ ફાઇલ Wikimedia Commonsનો ભાગ છે અને શક્ય છે કે અન્ય પ્રકલ્પોમાં પણ વપરાઇ હોય. ત્યાંનાં મૂળ ફાઇલનાં વર્ણનનાં પાના પર આપેલું વર્ણન નીચે દર્શાવેલું છે.

સારાંશ:

વર્ણન
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
તારીખ 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
સ્રોત

http://kristian.molhave.dk

લેખક yashvant
પરવાનગી
(આ ફાઈલનો ફરી ઉપયોગ)		 CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg is a vector version of this file. It should be used in place of this JPG file when not inferior.
File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg
For more information, see Help:SVG.
In other languages
Alemannisch ∙ Bahasa Indonesia ∙ Bahasa Melayu ∙ British English ∙ català ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ eesti ∙ English ∙ español ∙ Esperanto ∙ euskara ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ hrvatski ∙ Ido ∙ italiano ∙ lietuvių ∙ magyar ∙ Nederlands ∙ norsk bokmål ∙ norsk nynorsk ∙ occitan ∙ Plattdüütsch ∙ polski ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ Scots ∙ sicilianu ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ suomi ∙ svenska ∙ Tiếng Việt ∙ Türkçe ∙ vèneto ∙ Ελληνικά ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ македонски ∙ нохчийн ∙ русский ∙ српски / srpski ∙ татарча/tatarça ∙ українська ∙ ქართული ∙ հայերեն ∙ বাংলা ∙ தமிழ் ∙ മലയാളം ∙ ไทย ∙ 한국어 ∙ 日本語 ∙ 简体中文 ∙ 繁體中文 ∙ עברית ∙ العربية ∙ فارسی ∙ +/−
New SVG image

પરવાના

w:en:Creative Commons
આરોપણ
આ ફાઈલ વપરાશની પરવાનગી : Creative Commons Attribution 2.5 Generic license.
તમે મુક્ત છો:
  • વહેંચવા – નકલ કરવા, વિતરણ કરવા અને રચનાઓ મોકલવા
  • રીમિક્સ કરવા કે મઠારવા – રચના અપનાવવા
નીચેની શરત હેઠળ:
  • આરોપણ – તમારે આ રચનાનો ઉપયોગ કરવા માટે લેખક કે પ્રકાશન અધિકાર ધારકની યોગ્ય માહિતી, પરવાનગી ‍(‌લાયસન્સ)ની કડી અને તેમાં ફેરફાર કર્યો હોય તો તેનો ઉલ્લેખ કરવો જ પડશે. તમે આ સત્તા અનુસાર જ આ રચનાનો પ્રયોગ થવો જોઈએ, પણ તેઓ તમને અથવા તમારા ઉપયોગ સાથે સંમત થાય છે તે રીતે નહીં.

Captions

Add a one-line explanation of what this file represents

Items portrayed in this file

દર્શાવે છે

media type અંગ્રેજી

image/jpeg

checksum અંગ્રેજી

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

determination method અંગ્રેજી: SHA-1 અંગ્રેજી

data size અંગ્રેજી

૮૮,૦૭૧ byte

ઉંચાઈ

૫૬૯ pixel

width અંગ્રેજી

૭૨૧ pixel

ફાઇલનો ઇતિહાસ

તારીખ/સમય ઉપર ક્લિક કરવાથી તે સમયે ફાઇલ કેવી હતી તે જોવા મળશે.

તારીખ/સમયલઘુચિત્રપરિમાણોસભ્યટિપ્પણી
વર્તમાન૧૯:૪૦, ૨૧ નવેમ્બર ૨૦૦૬૧૯:૪૦, ૨૧ નવેમ્બર ૨૦૦૬નું લઘુચિત્ર સંસ્કરણ૭૨૧ × ૫૬૯ (૮૬ KB)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

આ ફાઇલને કોઇ પાનાં વાપરતા નથી.

ફાઇલનો વ્યાપક ઉપયોગ

નીચેની બીજી વિકિઓ આ ફાઈલ વાપરે છે:

આ ફાઇલના વધુ વૈશ્વિક વપરાશ જુઓ.

"https://gu.wikipedia.org/wiki/ચિત્ર:AFMsetup.jpg" થી મેળવેલ